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TC660涂層測厚儀探頭選用技術(shù)數(shù)據(jù)

發(fā)布時間：2020-11-26 17:03瀏覽次數(shù)：

HRC華銳昌TC660涂層測厚儀是一款便攜式涂層測厚儀，它能快速,，無損,，精確地進行涂、鍍層厚度的測量,，被廣泛地用于制造業(yè),，金屬加工業(yè)，化工業(yè),、商檢等檢測領域,，深圳市華銳昌科技有限公司作為專業(yè)的涂層測厚儀生產(chǎn)廠家,，產(chǎn)品質(zhì)量可靠,、售后專業(yè),，為客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品及服務。http://vuhw.cn/

TC660涂層測厚儀采用了兩種測厚方法：磁性法,、渦流法,，即可測量磁性金屬基體上非磁性涂鍍層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電涂層的厚度。

此款涂層測厚儀采用了液晶顯示屏,，超清屏幕顯示,，帶背光，在光線很暗的場合依然正常使用,，儀器界面全中文菜單,，簡單明了，具有單次,、連續(xù),、二次測量方式。

為了更好的使用TC660涂層測厚儀,，下表列出了涂層測厚儀探頭選用的技術(shù)數(shù)據(jù),，方便大家給儀器選擇適用的探頭，涂層測厚儀TC660選用探頭技術(shù)數(shù)據(jù)表：

探頭		F400	F1	F1/90	F10	N400	N1	CN02
測量原理		磁性				渦流
測量范圍（μm）		0～400	0～1250		0～10mm	0～400	0～1250	10～200
測量精度μm	一點校準	±[(1～3)%H+0.7]	±（3%H+1）		±（3%H+10）	±（3%H+1）	±（3%H+1.5）	±(3%H+1)
測量精度μm	二點校準	±（1～3％H+0.7）	±[(1~3)%H+1]		±[(1～3)%H+10]	±[(1～3)%H+1]	±[(1～3)%H+1.5]	---
低限分辨率		0.1	0.1		1	0.1	0.1	1
最小曲率半徑(mm)		(凸)1	1.5	平直	10	1.5	3	僅為平面
最小面積直徑(mm)		￠3	￠7		￠40	￠4	￠5	￠7
基本臨界厚度(mm)		0.2	0.5		2	0.3	0.3	無限制

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