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       漆膜儀也叫涂層測厚儀,，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測儀器,，當(dāng)儀器受到一些自身和外界因素的影響，測量會受到嚴重的干擾,，下面來看看有哪些因素影響著測量的精確度,。

 

1、磁場的影響：周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場,，會嚴重地干擾磁性法測厚工作,，外界恒磁場、電磁場和基體剩磁應(yīng)該避免在有干擾作用的外界磁場附近進行測量,，殘存的磁場,，根據(jù)檢測器的性能可能導(dǎo)致或多或少的測量誤差。

2,、表面粗糙度的影響：基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響,，軟覆蓋層試件在測量中可能會變形，因此也會影響精度,，基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度越大,，對測量精度的影響也就越大。

3,、測頭壓力的影響：測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù),，因此，要保持壓力恒定,，并應(yīng)盡可能小，才不致使軟的覆層發(fā)生形變,，以致測量值下降,。

4、基體金屬電磁性質(zhì)的影響：
      ①磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響,，為了避免熱處理和冷加工因素的影響,，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進行校準(zhǔn)，也可以用待涂覆試件進行校準(zhǔn),。
      ②基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響,，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)，使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進行校準(zhǔn),。

5,、試件變形對測量的影響：測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

6,、邊緣效應(yīng)的影響：測厚儀器對試件表面形狀的陡變敏感,，因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。

7,、附著物的影響：儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,，因此，必須清除附著物質(zhì),，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸,。

8、測頭放置方式及壓力的影響：測頭的放置方式對測量也是有影響的,，在測量過程中,，應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直，從而進行測量,，測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù),，因此，要保持壓力恒定,。  

9,、試件曲率對測量的影響：試件曲率對測量的影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大，因此,，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的,。

10、基體金屬厚度的影響：每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度,，測厚測量也受基體金屬厚度的影響,。
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