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       漆膜儀也叫涂層測(cè)厚儀,，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測(cè)儀器,，當(dāng)儀器受到一些自身和外界因素的影響，測(cè)量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾,，下面來(lái)看看有哪些因素影響著測(cè)量的精確度,。

 

1、磁場(chǎng)的影響：周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作,，外界恒磁場(chǎng)、電磁場(chǎng)和基體剩磁應(yīng)該避免在有干擾作用的外界磁場(chǎng)附近進(jìn)行測(cè)量,，殘存的磁場(chǎng),，根據(jù)檢測(cè)器的性能可能導(dǎo)致或多或少的測(cè)量誤差。

2,、表面粗糙度的影響：基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響,，軟覆蓋層試件在測(cè)量中可能會(huì)變形，因此也會(huì)影響精度,，基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度越大,，對(duì)測(cè)量精度的影響也就越大。

3,、測(cè)頭壓力的影響：測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù),，因此,，要保持壓力恒定，并應(yīng)盡可能小,，才不致使軟的覆層發(fā)生形變,，以致測(cè)量值下降。

4,、基體金屬電磁性質(zhì)的影響：
      ①磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響,，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),，也可以用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn),。
      ②基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān),，使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),。

5、試件變形對(duì)測(cè)量的影響：測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù),。

6、邊緣效應(yīng)的影響：測(cè)厚儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感,，因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的,。

7、附著物的影響：儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,，因此,，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸,。

8,、測(cè)頭放置方式及壓力的影響：測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量也是有影響的，在測(cè)量過(guò)程中,，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直,，從而進(jìn)行測(cè)量，測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù),，因此,，要保持壓力恒定。  

9,、試件曲率對(duì)測(cè)量的影響：試件曲率對(duì)測(cè)量的影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大,，因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的,。

10,、基體金屬厚度的影響：每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，測(cè)厚測(cè)量也受基體金屬厚度的影響,。
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